Effiziente Inspektion von Halbleiter- und Elektronikbauteilen

Der ChipControl Befehlssatz hält für die verschiedenen Aufgabenstellungen spezielle Befehle bereit, so dass nur noch der passende Befehl ausgewählt werden muss und die Parameter für das zu prüfende Bauteil eingetragen werden. Schon kann der Sensor die Prüfung autonom in der Prüfanlage übernehmen, wie zum Beispiel:

• Pin 1 Inspektion
• Imprint Inspektion
• InTape-Inspektion
• Anschluss-Inspektion
• Leadframe-Inspektion
• 2D InTape-Inspektion
• 3D-Anschluss-Koplanaritätsinspektion (LCI)
• BGA-Inspektion
• Drahtbond-Inspektion
• Wafer- und Bluetape-Ausrichtung
• Wafer-ID-Lesung
• Dam-Bar-Inspektion
• THT-Inspektion

Der ChipControl Befehlssatz steht für „Null-Fehler-Produktion“, eine Reduzierung der Fertigungszeit, Qualitäts- und Produktivitätssteigerung und dadurch natürlich auch für eine höhere Kundenzufriedenheit.